Összes letöltés a DEA-ból: 13
| country | downloads |
|---|---|
| n.a. | 13 |
| Megjelenés | Publication | Fájlletöltések |
|---|---|---|
| 2024 | Takáts, V., Bodnár, E., Kaganovskii, Y., Fodor, T., Hakl, J., Molnár, S., Soha, M., Vad, K.: Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer. Heliyon. 10 (3), 1-9, 2024. Teljes szöveg: https://hdl.handle.net/2437/366264 Folyóirat-mutatók:
Q1 Multidisciplinary (2023) | KIadói változat: 13 |