Összes letöltés a DEA-ból: 30
country | downloads |
---|---|
Hungary (HU) | 2 |
United States (US) | 1 |
n.a. | 27 |
Megjelenés | Publication | Fájlletöltések |
---|---|---|
2024 | Takáts, V., Bodnár, E., Kaganovskii, Y., Fodor, T., Hakl, J., Molnár, S., Soha, M., Vad, K.: Characterization of nanoscale atomic motion of Si in polycrystalline Cu layer. Heliyon. 10 (3), 1-9, 2024. Teljes szöveg: https://hdl.handle.net/2437/366264 Folyóirat-mutatók:
Q1 Multidisciplinary (2023) | KIadói változat: 13 |
2022 | Bodnár, E., Takáts, V., Fodor, T., Hakl, J., Kaganovskii, Y., Yang, G., Yao, X., Vad, K.: Grain boundary diffusion of Si in polycrystalline copper film. Vacuum. 203 1-5, 2022. Teljes szöveg: https://hdl.handle.net/2437/366795 Folyóirat-mutatók:
Q1 Condensed Matter Physics Q1 Instrumentation Q1 Surfaces, Coatings and Films | Kiadói változat: 17 |